Biomedizinische Technik 4: Technische Sondergebiete by Heinz Gundlach, Dieter Kurz, Ortwin Müller (auth.),

By Heinz Gundlach, Dieter Kurz, Ortwin Müller (auth.), Professor Dr.-Ing. Helmut Hutten (eds.)

Die Medizin bedient sich in der Diagnostik und Therapie in zunehmendem Maße physikalisch-technischer Verfahren. Aus dieser Entwicklung ergibt sich ein wachsender Bedarf an qualifizierten Ingenieuren und Physikern, die in Kliniken und an Forschungsinstitutionen den Einsatz von Technik in der Medizin organisieren und überwachen. Das vierbändige Lehr- und Handbuch behandelt in umfassender Weise das Gesamtgebiet der biomedizinischen Technik. fifty seven Autoren von Universitäten, Forschungsinstituten, Kliniken und der Industrie haben erstmals in deutscher Sprache ein Werk geschaffen, das alle Voraussetzungen zu einem Standardwerk auf dem Gebiet erfüllt. Band 4 beschreibt Sondergebiete wie Mikroskope, Endoskope, Laser, Strahlenschutz, Meßwertwandler, Biomaterialien, Ergonomie und elektromagnetische Verträglichkeit. Ein Kapitel über Rechtsvorschriften und Normen runden den Band ab. Die weiteren Bände behandeln Diagnostik und bildgebende Verfahren (Band 1), Therapie und Rehabilitation (Band 2) sowie Signal- und Datenverarbeitung und Medizinische Sondergebiete (Band 3).

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Die Austrittspupillen guter Operationsmikroskope betragenje nach VergroBerung zwischen 1 und 2,8 mm, sind also stets groBer als oben gefordert. Sie erreichen damit fast die Grenze von 3 mm, oberhalb derer die Fehler des Auges eine qualitatvolle Netzhautabbildung nicht mehr zulassen. Diese UbergroBe der Austrittspupillen ist dem Bediirfnis nach Helligkeit zuzuschreiben. 8) Dabei ist E die Objektbeleuchtungsstarke und TM die Transmission der Optik. Der Proportionalitatsfaktor ist yom Objekt abhangig.

Bei einem kristallinen Objekt ist dies ein Punktdiagramm. Durch Umschalten der Projektivlinsen von der 1. Zwischenbildebene auf die hintere Brennebene des Objektivs ist ein einfacher Ubergang von Abbildung auf Beugung moglich. 19 zeigt den prinzipiellen Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops. 19. Schematischer Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops 10 bis 50 Jlm Durchmesser. Die Elektronen werden hierbei wahlweise auf Energien von 200 V bis 30 kV beschleunigt. Nachgeschaltete Kondensoren verkleinern diesen Crossover.

Hierbei findet Energieaustausch und Richtungsanderung statt. Transmittierte Elektronen erzeugen das Bild des Objekts im Transmissionselektronenmikroskop. Der Betrag des Energieverlusts der inelastisch gestreuten Elektronen ist auBerdem charakteristisch fUr das streuende Atom, er wird daher fUr mikroanalytische Untersuchungen gemessen. Sekundiirelektronen und Riickstreuelektronen Durch Streuung des Elektronenstrahls entstehen auch im Riickraum Elektronen. Man unterscheidet die sogenannten Sekundarelektronen (SE) mit Energien bis 50 eV und die Riickstreuelektronen (BSE) oberhalb von 50 eV bis zur Primarenergie der eingestrahlten Elektronen.

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